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        產品導航
        當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 微波器件老化試驗 微波功率器件直流老化 微波管高溫靜態工作老化測試系統 (MFS2004)

        微波管高溫靜態工作老化測試系統(MFS2004)

        該系統共配置12個獨立工作的試驗區,每個試驗區具備4路器件老化工位,整機共48個器件老化工位,12個試驗區可通過上位機實現獨立或同時控制、監測、記錄、通訊。每個工位可以獨立控制被測器件的殼溫,檢測精度達1%±2℃。實時監測老化過程中被測器件的各項參數并進行記錄,采用技術先進的可調穩壓大功率二次電源。

        功能
        • 實時監測被測器件的電流、電壓狀態,自動調整被測器件的電流
        • 可獨立控制被測器件的殼溫,精度達1%±2℃
        • 可適配不同封裝、功率要求的微波功率器件
        產品特性

        試驗溫區

        12個

        試驗溫度

        70~200℃

        老化試驗區

        12區

        漏極電壓控制范圍

        0.01~60V

        漏極電壓控制精度

        ±(1%+0.1V)

        柵極電壓控制范圍

        -10~10V

        柵極電壓控制精度

        ±(1%+0.01V)

        漏極電流檢測范圍

        0~5A

        漏極電流檢測精度

        ±(1%+1mA)

        柵極電流檢測范圍

        0~50mA

        柵極電流檢測精度

        ±(1%+0.01mA)

        殼溫波動度

        ±1℃

        殼溫檢測精度

        ±(1%+2℃)

        電源

        0~60V/40A(12路可選配)

        整機供電

        三相AC380V±38V

        最大功率

        25KW(典型)

        整機重量

        1000KG(典型)

        整機尺寸

        1800mm(W)×1300mm(D)×2000mm(H)

        適用標準

        GJB128 MIL-STD-750 MIL-M-19500

        適用器件

        適用于GaN、GaAs等微波管

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