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        產品導航
        當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 集成電路實驗設備 集成電路(通用型) 超大規模集成電路老化測試系統 (LSIC9000)

        超大規模集成電路老化測試系統(LSIC9000)

        該系統可對芯片進行室溫+10°C~150°C的HTOL測試,老化過程中實時檢測被測器件的輸出信號,過程中自動對比向量。

        功能
        • 每塊老化板提供10路可編程電源(0.5~10V/0~25A) 電源規格可單獨定制。
        • 每塊老化板可提供,256路I/O雙向通道
        • 每個試驗箱可支持最大38kw的熱耗散
        • 支持STIL、VCT、VEC格式向量文件直接導入使用。
        • 支持芯片BIST測試
        • 最大支持24個工位獨立溫控
        • 充分的實驗員人體安全考慮設定
        產品特性

        試驗溫區

        1 個

        試驗溫度

        室溫+10~150℃

        老化試驗區

        32區

        數字信號頻率

        10MHz

        向量深度

        16Mbit

        信號通道數

        256路獨立可編程雙向IO

        時鐘組數

        8 組

        信號周期

        80~20480nS

        時序邊沿

        雙沿

        PIN格式

        8 種

        信號輸入輸出電壓

        0.5~5V

        IO驅動電流

        DC≥50mA、瞬時電流≥80mA

        DPS電源

        0.5~6.0V/25A(可選配10V/5A)

        DPS電源數

        10個(可根據客戶需求配置)

        DPS輸出保護

        OVP (過壓)、UVP(欠壓)、OCP(過流)

        整機供電

        三相AC380V±38V

        最大功率

        100KW(典型)

        整機重量

        2200KG(典型)

        整機尺寸

        2500mm(W)×1450mm(D)×2470mm(H)

        適用標準

        MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101 JESD22A-108

        適用器件

        適用于通用超大規模集成電路、SOC、FPGA、ARM、AI、低功率GPU等超大規模集成電路

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