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        產品導航
        當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 分立器件實驗設備 間歇壽命試驗 間歇壽命老化測試系統 (IOL3000)

        間歇壽命老化測試系統(IOL3000)

        該系統適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、T-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等)的大功率二極管、MOS管等功率器件進行功率循環試驗和恒流功率試驗。系統每個區位風道獨立,充分避免不同區位試驗進程不同對試驗結果造成影響;在實驗過程中,監測器件的電壓、結溫特性,并且提供結溫特性曲線以備后期數據分析。

        功能
        • 風冷功率循環試驗
        • 每個區位獨立風道
        • 大風力散熱風機
        • 最大60A電流試驗能力
        • 支持全開通加熱模式
        • 充分的實驗員人體安全考慮設定


        產品特性

        試驗模式

        風冷

        試驗風道

        16個

        老化試驗區

        16區

        單區工位數

        16-80(典型)

        最大負載

        300m(被測器件橫流模式) 60A(飽和導通模式)

        最大電壓

        45V

        最大測試溫度

        200°C

        電壓檢測精度


        ± (1+2LSB)


        柵極控制電壓

        ±15V

        結溫測試電流(Isense)


        Isense 10~100mA


        接地電阻

        ≤1Ω

        整機供電


        三相AC380V±38V


        最大功率

        50KW(典型)

        整機重量

        700KG(典型)

        整機尺寸

        1800mm(W)x1400mm(D)x1950mm(H)

        適用標準

        MIL-STD-750D AEC-Q101

        適用器件

        適用于MOS管、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、SIC、GAN、可控硅等

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