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        產品導航
        當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 分立器件實驗設備 間歇壽命試驗 間歇壽命老化測試系統 (IOL2000)

        間歇壽命老化測試系統(IOL2000)

        該系統適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等) 的大功率二極管、MOS管等功率器件進行功率循環試驗和恒流功率試驗。系統每個區位風道獨立,充分避免不同區位試驗進程不同對試驗結果造成影響;在實驗過程中,監測器件的電壓、結溫特性,并且提供結溫特性曲線以備后期數據分析。

        功能
        • 風冷功率循環試驗
        • 每個區位獨立風道
        • 大風力散熱風機
        • 最大60A電流試驗能力
        • 支持全開通加熱模式
        產品特性

        試驗溫區

        1個(K系數)

        試驗溫度

        室溫+10~200℃(K系數)

        老化試驗區

        16區(8/16/20區可選)

        單區工位數

        4(典型)

        工位最大可串聯數量

        8

        老化電壓范圍

        0~60V

        電壓檢測精度

        ±(1%+2LSB)

        電流檢測范圍

        100mA~60A

        電流檢測精度

        ±(1%+100mA)

        結溫測試電流(Isense)

        10~100mA

        整機供電

        三相AC380V±38V

        最大功率

        30KW(典型)

        整機重量

        1200KG(典型)

        整機尺寸

        2075mm(W)×1350mm(D)×1950mm(H)

        適用標準

        GJB128 MIL-STD-750D AEC-Q101

        適用器件

        適用于MOS管、二極管、三極管等功率器件

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