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        產品導航
        當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 高溫試驗設備 高溫柵偏 高溫柵偏老化測試系統 (HTGB2000A)

        高溫柵偏老化測試系統(HTGB2000A)

        該系統可進行室溫+ 10°C-200C的高溫柵偏老化測試,老化過程中實時監測被測器件的漏電流狀態、被測器件的電壓狀態,并根據需要,記錄老化試驗數據,導出試驗報表。

        功能
        • nA級別的漏電流檢測精度
        • 整機30s的全工位數據刷新
        • 可定制工位老化電壓獨立控制功能,實現單工位老化超限剔除
        • 充分的實驗員人體安全考電設定
        產品特性

        試驗溫區

        1個

        試驗溫度

        室溫+10~200℃

        老化試驗區

        16區(16/32/40/48區 可選)

        單區工位數

        80(典型)

        老化電壓范圍

        0~±100V

        電壓檢測精度

        ±(1%+2LSB)

        電流檢測范圍

        1nA~1mA

        電流檢測精度

        ±(1%+10nA)

        整機供電

        三相AC380V±38V

        最大功率

        8KW(典型)

        整機重量

        680KG(典型)

        整機尺寸

        1450mm(W) x1450mm (D) x2000mm (H)

        適用標準

        JESD22-A101 AQG324 GJB128MIL-STD-750D

        適用器件

        適用于MOS、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、可控硅等

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