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        產品導航
        當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 高溫試驗設備 高溫高濕反偏 高溫高濕反偏老化測試系統 (H3TRB2000F)

        高溫高濕反偏老化測試系統(H3TRB2000F)

        該系統可進行高溫高濕(雙85)老化測試,老化過程中實時監測被測器件的漏電流狀態、被測器件的電壓狀態,并根據需要記錄老化試驗數據,導出試驗報表。

        功能
        • nA級別的漏電流檢測精度
        • 整機30s的全工位數據刷新
        • 獨特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進程
        • 可定制工位老化電壓獨立控制功能,實現單工位老化超限剔除
        • 充分的實驗員人體安全考慮設定
        產品特性

        試驗溫區

        1個

        試驗溫度

        室溫+10~150℃

        試驗濕度

        10%rh~98%rh

        老化試驗區

        16區(8/16區可選)

        單區工位數

        80(典型)

        老化電壓范圍

        0~±2000V

        電壓檢測精度

        ±(1%+2LSB)

        電流檢測范圍

        10nA~50mA

        電流檢測精度

        ±(1%+10nA)

        整機供電

        三相AC380V±38V

        最大功率

        10KW(典型)

        整機重量

        1000KG(典型)

        整機尺寸

        1650mm(W)×1750mm(D)×1950mm(H)

        適用標準

        GJB128 MIL-STD-750D AEC-Q101 JESD22-A101

        適用器件

        適用于MOS管、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、可控硅等

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