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        產品導航
        當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 電容器高溫試驗設備 電容器老化 電容器高溫高濕老化測試系統 (H3MKP2000)

        電容器高溫高濕老化測試系統(H3MKP2000)

        該系統可對電容器進行高溫高濕(雙85)老化,老化過程中實時監測被測器件的漏電流、電壓,并且根據需要記錄、導出老化數據。

        功能
        • nA級別的漏電流檢測精度
        • 整機30s的全工位數據刷新
        • 獨特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進程
        • 獨特的自動充放電回路設計
        • 充分的實驗員人體安全考慮設定
        產品特性

        試驗溫區

        1個

        試驗溫度

        室溫-20~180℃

        試驗濕度

        25%rh~98%rh

        老化試驗區

        16區(8/16區可選)

        單區工位數

        40(典型)

        老化電壓范圍

        0~1200V

        電壓檢測精度

        ±(1%+2LSB)

        電流檢測范圍

        10nA~30mA

        電流檢測精度

        ±(1%+10nA)

        整機供電

        三相AC380V±38V

        最大功率

        12KW(典型)

        整機重量

        1050KG(典型)

        整機尺寸

        1650mm(W)×1750mm(D)×1950mm(H)

        適用標準

        GJB360 MIL-STD-202E

        適用器件

        適用于片式陶瓷電容器(MLCC)、云母、薄膜、紙介、陶瓷和金屬化紙介電容器等

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