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        產品導航
        當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 電容器高溫試驗設備 電容測試 電容器高溫高阻測試系統 (HTIR2010)

        電容器高溫高阻測試系統(HTIR2010)

        該系統采用自動化測量系統,可進行室溫+10℃~150℃電容器IR值測量。測量時,通過模組控制測試探頭的位移進行測試,確保每次只連接一只電容器。機械接觸代替繼電器切換,提高測量精度。

        功能
        • 實時監測被測器件IR值
        • 選用Keithley 6517B 靜電計/高阻表進行測量
        • 可根據不同器件封裝,定制專用老化測試板
        • 裝載阻抗大于10 Ω的電容器時,測試到的阻抗不小于10 Ω
        產品特性

        試驗溫區

        1個

        試驗溫度

        室溫+10~150℃

        老化試驗區

        16區

        單區工位數

        48(典型)

        測量儀表

        Keithley 6517B靜電計/高阻表

        測試電壓

        0~1000V

        絕緣電阻范圍

        1M2~1TQ

        整機供電

        單相AC220V±22V

        最大功率

        5KW(典型)

        整機重量

        600KG(典型)

        整機尺寸

        1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

        適用標準

        GJB360 MIL-STD-202E

        適用器件

        適用于片式封裝: 04/06/08/10/12/18/20/22/28/32等系列

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